Ruiz Balbas·╃│✘：安美特西班牙質控部門的工作流程主要是接收存在已知缺陷的部件│☁•☁。我們首先要透過金相制樣對缺陷進行序列分析✘☁╃，例如切割和拋光環節✘☁╃，然後再執行後續的檢測工作│☁•☁。樣本製備好後✘☁╃，我們會使用光學顯微鏡和掃描電子顯微鏡執行檢測│☁•☁。我們的工作主要是金相檢驗和測量✘☁╃，多圍繞沉澱金屬中產生的表面缺陷✘☁╃，例如銅·↟、鎳·↟、鉻·↟、鋅·↟、金等│☁•☁。

Ruiz Balbas·╃│✘：最大的挑戰是如何在最短的時間內獲得儘可能多的缺陷資訊│☁•☁。

Ruiz Balbas·╃│✘：可持續性已經成為汽車工業各環節都必須滿足的一項要求│☁•☁。也就是說✘☁╃，我們不僅要確保產品中不含致癌·↟、致突變或生殖毒性物質（CMR）✘☁╃，最佳化物理化學屬性✘☁╃，還要減少碳排放│☁•☁。為此✘☁╃，十多年來✘☁╃，安美特一直堅持將我們年收入額的10%投入研發和材料科學領域│☁•☁。因此✘☁╃，我們也一直是汽車工業的表面處理合作伙伴│☁•☁。

Ruiz Balbas·╃│✘：我們的優勢主要在於我們在金相技術領域擁有豐富經驗│☁•☁。

Ruiz Balbas·╃│✘：傳統的樣本製備方法很難發現細微的缺陷和問題│☁•☁。在很多情況下✘☁╃，人工操作因素✘☁╃，例如移動或樣本製備✘☁╃，都會導致飾面發生變化；或者在某些情況下✘☁╃，磨削-拋光過程還會導致樣本傾斜│☁•☁。移動樣本的過程中✘☁╃，還需要很多的輔助性支援材料✘☁╃，例如使用樹脂包覆樣本│☁•☁。

使用徠卡EM TXP表面定位研磨製備系統✘☁╃，在材料切割和拋光過程中✘☁╃，我們可以透過可控的步驟序列實現漸進式操作│☁•☁。我們可以針對目標細節想要增加的微米數量│☁•☁。可控的切割-拋光遞增量可以從0.5微米到100微米的範圍內自由選擇│☁•☁。在此之前✘☁╃，我們根本無法視覺化表面外觀或缺陷輪廓上確切的橫截面│☁•☁。

現在使用徠卡EM TXP/DM2700 M後✘☁╃，從橫截面開始到製備再到完成✘☁╃，利用一體式立體顯微鏡✘☁╃，我們可以從不同角度觀察樣本✘☁╃，實現表面外觀和橫截面的視覺化│☁•☁。

Ruiz Balbas·╃│✘：它操作起來靈活·↟、自由✘☁╃，可以在短時間內獲得高質量結果│☁•☁。它能確保樣本製備方法的一致性和可重複性✘☁╃，進而保證樣本分析準確無誤│☁•☁。

Leica DM2700 M正置金相顯微鏡